熱搜關鍵詞: 定制IC測試座 IC老化板 模塊測試座 SSD-flash存儲




QFN58pin芯片測試座參數:
本體尺寸:6*6mm
引腳中心間距:0.35mm
芯片測試座結構:下壓式open top
Socket殼體:合金+PEEK
探針材料:鈹銅
探針鍍層:鎳金
操作壓力:2.0KGmin,與pin數成正比
接觸阻抗:50mΩmax
耐壓測試:700V AC for 1minute
絕緣阻抗:1000mΩ 500V DC
最大電流:1A
使用溫度:-45°C-+125°C
機械壽命:大于15000次(機械測試)
| 適用規格 | 16-88pin,0.4、0.5、1.27引腳間距QFN/LCC封裝的IC |
| 支持頻率 | ≤300Mhz |
| 溫度范圍 | -45℃-125℃ |
| 操作力壓 |
35g每pin,PIN越多需要壓力越大 |
| 額定電流 |
單PIN1A |
| 接觸電阻 | ≤100毫歐 |
| 絕緣電阻 | DC500V1000兆歐以上 |
|
QFN/DFN封裝、有的也稱為LCC、下壓式結構測試座 支持EEPROM,驅動器IC,電源IC等QFN封裝,芯片測試座009系列.有翻蓋式、旋鈕翻蓋式、雙扣式、分離式結構、下壓開窗結構適合自動機臺 |
|
IC測試座
QFN58pin芯片測試socket
QF58pin芯片測試夾具
QFN58pin芯片測試座
芯片測試夾具
芯片測試座
咨詢熱線
0755-83587595